Контрольно измерительное оборудование высокой скорости и точности измерения. Любые объекты и элементы рисунка на плоскости могут быть измерены. Создана для измерения элементов рисунка TFT/CF стекол и фотомасок на высокой скорости с высокой точностью.

Компанией Алдитек совместно с корпорацией V-Technolgy разработаны методы бесконтактного измерения объектов и построения их трехмерных профилей (поверхностей). Эти методы успешно применяются в системах инспекции и бесконтактного измерения при производстве LСD матриц, но могут использоваться и для других объектов PDP, OLED, дорожек и элементов печатных плат и т.д.